久久日韩一区二区三区,国产三级黄视频,麻豆欧美精品一区二区三区,国语自产免费精品视频一区二区,露脸超嫩,免费成人黄色大片,欧美日韩永久免费看看视频,国产欧美一区二区三区免费视频,日本一道在线不卡视频

網站首頁技術中心 > 用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點
產品中心

Product center

用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點

發布時間:2023-08-16 點擊量:4542

用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點

評估 可以測量電池中的反應分布

特征

  1. 可以測量電池中的反應分布

    規范
    探測器1392×1040(像素)CCD
    像素大小20×20微米
    線性保證高達吸光度4
    測量時間測量時間點 1000
    最小測量時間間隔10(秒)
    波長405、450、570、630、810(納米)
    溫度控制37°C±0.1°C
  2. 由于它是斬波器系統,因此可以消除外部光線和噪音。

  3. 光密度是根據樣品相對于參考的透射率計算的。

  4. 可以任意間隔進行連續測量。

  5. 選項多點測量 使用偏振棱鏡進行極化率測量 波長下的透射率測量

OD4-蘋果手機 多波長圖像測量系統

它是一種可以通過移動終端測量的系統。